За моно-Сивите вафли, 158.75mm пълен квадрат ще се превърне в най-приетия дизайн до втората половина на годината. Само няколко производители използват вафли, които са по-големи от тези. LG и Hanwha Q Cells, например, използват M4 вафли (161.7mm), докато Longi насърчава 166 мм вафли.
Най-съвременните Пълно square Mono Wafers са максимизирани излагането на светлина на същото ниво на мулти пластини чрез разширяване на квадратен мярка. Вафлите са винаги напълно квадратни, така че да пасват на PV модула по оптимален начин.
1 Свойства на материала
свойство | Спецификация | Метод на проверка |
Метод на растеж | 100 000 | |
Кристална | Монокристална | Техники за емиране（1000000000000000000000000000） |
Тип на проводимостта | Тип N | Нафтерна ЕК-80ТН |
Доант | фосфор | - |
Концентрация на кислород[Oi] | ≦8E+17 в/см3 | 1000000000000000000000000000000000000000000 |
Концентрация на въглерод[С] | ≦5E+16 в/см3 | 1000000000000000000000000000000000000000000 |
Плътност на ет. питка (плътност на дислокация) | ≦500 см-3 | Техники за емиране（1000000000000000000000000000） |
Ориентация на повърхността | <100>±3° | Рентгенов дифракционни методи (ASTM F26-1987) |
Ориентация на псевдо квадратни страни | <010>,<001>±3° | Рентгенов дифракционни методи (ASTM F26-1987) |
2 Електрически свойства
свойство | Спецификация | Метод на проверка |
Съпротивление | 0,3-2,1 Ω см 1.0-7.0 Ω.cm | Система за инспекция на вафли |
MCLT (живот на миноритарен носител) | ≧1000 μs(Съпротивление 0,3-2,1 Ω.cm) | Синтон преходен |
3 геометрия
свойство | Спецификация | Метод на проверка |
геометрия | Пълен квадрат | |
Дължина на вафлите | 158,75 ± мм | система за инспекция на wafer |
Диаметър на вафлите | φ223±0.25 mm | система за инспекция на wafer |
Ъгъл между съседните страни | 90° ± 0,2° | система за инспекция на wafer |
Дебелина | 180﹢20/﹣10 μm; 170﹢20/﹣10 μm | система за инспекция на wafer |
TTV (Обща вариация на дебелината) | ≤27 μm | система за инспекция на wafer |
4 Свойства на повърхността
свойство | Спецификация | Метод на проверка |
Метод на рязане | 1000000 | -- |
Качество на повърхността | като нарязани и почистени, не се допуска видимо замърсяване (масло или грес, пръстови отпечатъци, петна от сапун, петна от суспензия, епоксидни/лепилен петна не са позволени) | система за инспекция на wafer |
Следи от трион / стъпала | ≤ 15μm | система за инспекция на wafer |
лък | ≤ 40 μm | система за инспекция на wafer |
Основата | ≤ 40 μm | система за инспекция на wafer |
чип | дълбочина ≤0.3mm и дължина ≤ 0.5mm Max 2 /бр; няма V-чип | Система за проверка на голи очи или вафли |
Микро пукнатини / отвори | Не е позволено | система за инспекция на wafer |
Популярни тагове: n тип 158.75mm монокристална слънчева вафла, Китай, доставчици, производители, фабрика, произведени в Китай
