166mmx166mm M6 монокристална силициева слънчева вафла с диаметър 223mm е 12.21% по-голяма от вафлата M2. Така че слънчевите клетки, изработени от подложка M6, ще имат 12,21% по-висока изходна мощност от тази, направена от подложка M2.
1 Свойства на материала
Имот | Спецификация | Метод за проверка |
Метод за растеж | Чехия | |
Кристалност | Монокристален | Преференциални техники за ецване（ASTM F47-88） |
Тип проводимост | P-тип | Napson EC-80TPN P/N |
Допант | Бор, Галиум | - |
Концентрация на кислород [Oi] | ≦8E+17 at / cm3 | FTIR (ASTM F121-83) |
Концентрация на въглерод [Cs] | ≦5E+16 at / cm3 | FTIR (ASTM F123-91) |
Плътност на гравиращата яма (дислокационна плътност) | ≦500 см-3 | Преференциални техники за ецване（ASTM F47-88） |
Ориентация на повърхността | & lt; 100> ± 3 ° | Рентгенов дифракционен метод (ASTM F26-1987) |
Ориентация на псевдо квадратни страни | & lt; 010>,< 001=""> ± 3 ° | Рентгенов дифракционен метод (ASTM F26-1987) |
2 Електрически свойства
Имот | Спецификация | Метод за проверка |
Съпротивление | 0,5-1,5 Ωcm | Система за проверка на вафли |
MCLT (живот на малцинствения превозвач) | ≧50 μs | Sinton BCT-400 (с ниво на инжектиране: 1E15 см-3) |
3Геометрия
Имот | Спецификация | Метод за проверка |
Геометрия | Пълен квадрат | |
Вафла Дължина на страната | 166 ± 0,25 мм | система за инспекция на вафли |
Диаметър на вафлата | φ223 ± 0,25 мм | система за инспекция на вафли |
Ъгъл между съседните страни | 90° ± 0.2° | система за инспекция на вафли |
Дебелина | 180﹢20/﹣10 µm; 170﹢20/﹣10 µm | система за инспекция на вафли |
TTV (обща дебелина) | ≤27 µm | система за инспекция на вафли |
4 Свойства на повърхността
Имот | Спецификация | Метод за проверка |
Метод на рязане | DW | -- |
Качество на повърхността | като изрязани и почистени, без видимо замърсяване (не се допускат масла или мазнини, отпечатъци от пръсти, петна от сапун, петна от каша, епоксидни / лепилни петна) | система за инспекция на вафли |
Пили / стъпки | ≤ 15µm | система за инспекция на вафли |
Лък | ≤ 40 µm | система за инспекция на вафли |
Деформация | ≤ 40 µm | система за инспекция на вафли |
Чип | дълбочина ≤0,3 мм и дължина ≤ 0,5 мм Макс. 2 / бр; няма V-чип | Голи очи или система за инспекция на вафли |
Микро пукнатини / дупки | Не е позволено | система за инспекция на вафли |
Популярни тагове: p тип 166mm монокристална слънчева вафла, Китай, доставчици, производители, фабрика, произведена в Китай
